IC-Test-Services und Halbleitertest-Lösungen

IC-Test-Lösungen unabhängig von der Stückzahl

Der Übergang von der Entwicklung zur Serienproduktion ist einer der kritischsten Schritte im Lebenszyklus integrierter Schaltkreise: Er entscheidet über Qualität, Kosten und Time-to-Market. Gerade für Start-ups, Forschungseinrichtungen und kleinere Designhäuser ohne eigene Testinfrastruktur stellt diese Phase eine große Hürde dar. Während etablierte Testhäuser primär auf Hochvolumenproduktionen ausgelegt sind, fehlt es ihnen oft an flexiblen, kosteneffizienten Testlösungen für Prototypen und Pilotserien.

Genau hier setzen wir an: Mit unseren unabhängigen IC-Test-Services schließen wir die Lücke zwischen Entwicklung und Produktion durch skalierbare, anpassbare Testlösungen – von der ersten Evaluation bis zur Serienreife und unabhängig von der Stückzahl. Durch den Einsatz moderner ATE-Systeme, individuell angepasster Testprogramme und flexibler Hardwarelösungen realisieren wir Tests, die sowohl Entwicklungsanforderungen als auch Serienbedingungen gerecht werden. So ermöglichen wir verlässliche Testergebnisse und eine nahtlose Überführung Ihrer Designs in die Produktion.

Wo IC-Design auf Testkompetenz trifft –
Testlösungen für jede Entwicklungsphase

Wir begleiten Sie von der Chip-Idee bis zur Serienreife mit einem strukturierten, phasenorientierten Ansatz, der technische Exzellenz und praxisnahe Umsetzung vereint. Mit unserem Team aus IC-Designerinnen und -Designern sowie Testingenieuren und -ingenieurinnen unterstützen wir Sie in der Entwicklung und Charakterisierung Ihrer integrierten Schaltungen und stellen gemeinsam mit Partner-Testhäusern sicher, dass der Übergang in die Serienfertigung reibungslos verläuft.

Konzeptentwicklung

 

In der frühen Entwicklungsphase legen wir den Grundstein für eine erfolgreiche Teststrategie:

 

  • Entwicklung von Testkonzepten zur Sicherstellung der Testbarkeit (Design-for-Test)
  • Erstellung von Spezifikationen für Labor- und Produktionstests

Evaluierung

 

Während der Validierung und Charakterisierung prüfen wir Ihren IC auf Herz und Nieren und stellen Ihnen umfassend charakterisierte Samples für Systemtests zur Verfügung:

 

  • Entwicklung von PCBs für Labor- und Produktionstests sowie Nadelkarten für den Wafer-Test
  • Entwicklung von Labor-Testprogrammen mit vollautomatisierten Testaufbauten
  • Inbetriebnahme des Devices
  • Statistische Analyse der Messergebnisse unter unterschiedlichen Umwelteinflüssen (Temperatur, Spannung, Feuchte usw.)
  • Aufbau und Durchführung applikationsspezifischer Tests sowie Abnahmetests

Serientransfer

 

Im Übergang zur Produktion sorgen wir für einen effizienten Transfer des Testprogramms:

 

  • Test-Engineering für Produktionstests auf industriekompatiblen Testgeräten
  • Test von Pilotserien
  • Unterstützung beim Qualifikationsprozess gemeinsam mit externen Partnern
  • Konvertierung von Testprogrammen zwischen verschiedenen Testerplattformen

Erweiterte Test- und Charakterisierungsservices für Sensorsysteme

Sensorische Charakterisierung

Als spezialisierten Service führen wir die  Charakterisierung und den Test integrierter Sensorelemente (optisch, magnetisch, gasbasiert) auf Wafer- und Package-Level durch:
 
  • Optoelektronische Messtechnik:
    Entwicklung und Betrieb von Messaufbauten, z. B. zur spektralen Charakterisierung
  • Lichtquellensteuerung und -kalibrierung:
    Einsatz von LEDs, Lasern und spektral definierten Quellen für reproduzierbare Tests
  • Magnetfeldgenerierung und -kalibrierung:
    Aufbau und Steuerung definierter Magnetfelder (z. B. 3D-Helmholtz-Spulen)
  • Signal- und Rauschcharakterisierung:
    Analyse der sensorischen Empfindlichkeit, Linearität, Hysterese und Rauschparameter

High-End-Messtechnik für elektrische und sensorische IC-Tests

Alles, was Sie brauchen, um Chips zu testen


Wir stellen die notwendigen Kompetenzen und die Infrastruktur bereit, um integrierte Schaltkreise zuverlässig elektrisch und sensorisch zu testen. Für präzise, reproduzierbare Ergebnisse setzen wir auf State-of-the-Art Messgeräte, die sowohl die Evaluation im Labor als auch den Test von Kleinserien unterstützen. So können ICs und Sensorelemente unter realistischen Betriebsbedingungen geprüft und Charakterisierungsergebnisse direkt auf Serienreife übertragen werden.

Evaluation im Labor

  • Modulares Messsystem für automatisierten Labortest
  • Thermostreams für Temperaturmessungen: -60 °C bis +225 °C
  • Equipment für In-House 3D-Druck und Drahtbonden
  • Table Top Pick-and-Place Handler für Laborcharakterisierung: -55 °C bis +155 °C

Testengineering und Kleinserientest

  • Zwei unterschiedliche State-of-the-Art Automatic Test Equipment-Systeme (ATE)
  • Wafer Prober für vollautomatisierten Wafer-Test: -55 °C bis +200 °C, nicht-magnetische Materialien in DuT-Nähe, optische Stimulation möglich
  • Pick-and-Place-Handler: -55 °C bis +175 °C, nicht-magnetische Materialien in DuT-Nähe, optische Stimulation möglich

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